Q-Tech振蕩器失效的平均時間
在使用石英晶體振蕩器過程中,如果因為某種因素導致故障,是一個非常麻煩的事,要解決這個問題,最好的方法就是找到問題的根源,然后“對癥下藥”。在這方面,美國的Q-Tech晶振公司是行家,研究出晶體振蕩器平均故障的間隔時間,通過相關的測試和計算確認最終數據。包括了加速壽命測試、壽命測試數據、運行條件、材料清單、MTBF計算、可靠性預測、設計技術、MTBF每年實際生命測試等項目。可靠性定義為設備在特定時間段內按其規范運行的概率。
浴缸曲線:
“浴盆曲線”描述了設備的假設故障率與時間的關系。第一個時期稱為嬰兒死亡期。下一個時期是圖的平坦部分。它被稱為正常生活。第三個周期從斜率開始增加的點開始并延伸到圖的末尾。
圖1可靠性浴缸曲線
MIL-HDBK-217計算的故障率適用于石英晶體振蕩器成熟期的使用壽命期,較弱的單元減弱并開始失效,因為相對恒定且故障率較低。使用壽命是進行可靠性預測的最常見時間范圍。
加速壽命測試:
加速壽命測試采用高應力方法來縮短壽命晶振或加速產品性能下降。各個振蕩器中的壓力測試包括延長的老化時間,即在+125°C或更低溫度下的壽命測試在偏見下至少1000小時更高。其他一些測試包括加熱,濕度,溫度,振動和負載。
可靠性預測方法:
預測方法基于基于各種來源的組件數據:
-壽命測試數據
-MIL-HDBK-217
運行條件:
-最大電流消耗:最大15mA。在+3.63V
-ThetaJC=30°C/W.
-ThetaJA=130°C/W.
-最高溫升:1.6°C
MTBFPERMIL-HBK-217:
MTBF計算基于MIL-HBK-217和太空飛行環境(SF)環境溫度+65°C,CL=90%,使用32.895MHz石英晶體,基本模式為3.3Vdc±10%電源,16-FP封裝,密封周長為1.8英寸。
材料清單:
-封裝,16-FP0.500“x0.375”(1.75英寸密封周長)數量:1
-微電路,ACMOS,數字數量:1
-互連Au-Au數量:22
-陶瓷,多層電容器,S級,25V數量:1
-石英晶體諧振器,掃描,2mW數量:1
-電阻數量:1
-互連跳線數量:2
-基材數量:1
故障率=Σ?p(1+0.2πe)πfπqπl
πe=0.5;πf=1;πq=0.25;πL=1
[(1x0.000011)+(1x0.0045)+(1x0.0000079)+(1x0.0084)+(22x0.0013)+(1x0.015)](1+0.2x0.5)(1.0x0.25x1.0)=0.016失敗/106小時
混合動力QT128L11S故障率=0.016故障/114年
FIT=16
可靠性預測圖
QT技術空間合格QT122L11S-32.895MHz的可靠性預測Life-test數據和使用MIL-HDBK-217的計算如下所示:
設計技術:
QT128L11S設計采用了ASICFACT1.3μ技術ACMOS邏輯,輻射容忍100kRad(Si),近似熱激活能量0.4eV和掃描石英在32.895MHz基本模式安裝在a三(3)點安裝。
模具的絕對最大額定值:
-絕對最大功耗:500mW
-絕對最高結溫:+175°C
-絕對最大電源電壓:+7Vdc
(對于60%置信水平的零失敗,卡方=1.833)MTBF=5,455,537小時
失敗率=1/MTTF=183.3E-9
FITS=失敗率x1E9=183
MTBF每年實際生命測試:
對于5Vdc和+3.3Vdc三次泛音的相同設計,Q-Tech收集了在+125°C的壽命測試期間,超過100,000個設備小時,沒有故障。使用60%置信水平的chisquare分布,我們預測失敗率如下:
測試部件數量:100+部件號測試:
具有第三個Overtone設計的MCM
供電電壓:+3.3Vdc和+5Vdc
負載:15pF//10kohms
失敗次數:0
測試溫度:+125°C
小時數:100,000+
設備小時數=100,000devhrs
加速因子(AF)=e(Ea/k)*(1/T1-1/T2)
其中Ea=0.4eV;k=8.62E-5eV/K;T1=298K;T2=398K
AF=50
通過以上的方法可以有效的實現預測各種有源晶振平均的失效時間,找到問題的所在,并利用現在的高技術手段處理。Q-Tech晶振已正式上線金洛鑫電子官網,感興趣的采購和用戶可以聯系我司,咨詢相關的資料和產品信息,并可為客戶提供樣品及訂購服務。
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