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Q-Tech振蕩器失效的平均時間

返回列表 來源:金洛鑫 瀏覽:- 發布日期:2019-01-02 10:35:21【
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在使用石英晶體振蕩器過程中,如果因為某種因素導致故障,是一個非常麻煩的事,要解決這個問題,最好的方法就是找到問題的根源,然后“對癥下藥”。在這方面,美國的Q-Tech晶振公司是行家,研究出晶體振蕩器平均故障的間隔時間,通過相關的測試和計算確認最終數據。包括了加速壽命測試、壽命測試數據、運行條件、材料清單、MTBF計算、可靠性預測、設計技術、MTBF每年實際生命測試等項目。可靠性定義為設備在特定時間段內按其規范運行的概率。

浴缸曲線:

“浴盆曲線”描述了設備的假設故障率與時間的關系。第一個時期稱為嬰兒死亡期。下一個時期是圖的平坦部分。它被稱為正常生活。第三個周期從斜率開始增加的點開始并延伸到圖的末尾。

Q-Tech晶體振蕩器,晶振平均失效時間

1可靠性浴缸曲線

MIL-HDBK-217計算的故障率適用于石英晶體振蕩器成熟期的使用壽命期,較弱的單元減弱并開始失效,因為相對恒定且故障率較低。使用壽命是進行可靠性預測的最常見時間范圍。

加速壽命測試:

加速壽命測試采用高應力方法來縮短壽命晶振或加速產品性能下降。各個振蕩器中的壓力測試包括延長的老化時間,即在+125°C或更低溫度下的壽命測試在偏見下至少1000小時更高。其他一些測試包括加熱,濕度,溫度,振動和負載。

可靠性預測方法:

預測方法基于基于各種來源的組件數據:

-壽命測試數據

-MIL-HDBK-217

運行條件:

-最大電流消耗:最大15mA。在+3.63V

-ThetaJC=30°C/W.

-ThetaJA=130°C/W.

-最高溫升:1.6°C

MTBFPERMIL-HBK-217

MTBF計算基于MIL-HBK-217和太空飛行環境(SF)環境溫度+65°CCL=90%,使用32.895MHz石英晶體,基本模式為3.3Vdc±10%電源,16-FP封裝,密封周長為1.8英寸。

材料清單:

-封裝,16-FP0.500x0.375”(1.75英寸密封周長)數量:1

-微電路,ACMOS,數字數量:1

-互連Au-Au數量:22

-陶瓷,多層電容器,S級,25V數量:1

-石英晶體諧振器,掃描,2mW數量:1

-電阻數量:1

-互連跳線數量:2

-基材數量:1

故障率=Σ?p1+0.2πe)πfπqπl

πe=0.5;πf=1;πq=0.25;πL=1

[1x0.000011+1x0.0045+1x0.0000079+1x0.0084+22x0.0013+1x0.015]1+0.2x0.5)(1.0x0.25x1.0=0.016失敗/106小時

混合動力QT128L11S故障率=0.016故障/114

FIT=16

可靠性預測圖

QT技術空間合格QT122L11S-32.895MHz的可靠性預測Life-test數據和使用MIL-HDBK-217的計算如下所示:

Q-Tech晶體振蕩器,晶振平均失效時間

設計技術:

QT128L11S設計采用了ASICFACT1.3μ技術ACMOS邏輯,輻射容忍100kRadSi),近似熱激活能量0.4eV和掃描石英在32.895MHz基本模式安裝在a三(3)點安裝。

模具的絕對最大額定值:

-絕對最大功耗:500mW

-絕對最高結溫:+175°C

-絕對最大電源電壓:+7Vdc

Q-Tech晶體振蕩器,晶振平均失效時間

(對于60%置信水平的零失敗,卡方=1.833MTBF=5,455,537小時

失敗率=1/MTTF=183.3E-9

FITS=失敗率x1E9=183

MTBF每年實際生命測試:

對于5Vdc+3.3Vdc三次泛音的相同設計,Q-Tech收集了在+125°C的壽命測試期間,超過100,000個設備小時,沒有故障。使用60%置信水平的chisquare分布,我們預測失敗率如下:

測試部件數量:100+部件號測試:

具有第三個Overtone設計的MCM

供電電壓:+3.3Vdc+5Vdc

負載:15pF//10kohms

失敗次數:0

測試溫度:+125°C

小時數:100,000+

設備小時數=100,000devhrs

加速因子(AF=eEa/k*1/T1-1/T2

其中Ea=0.4eV;k=8.62E-5eV/K;T1=298K;T2=398K

AF=50

通過以上的方法可以有效的實現預測各種有源晶振平均的失效時間,找到問題的所在,并利用現在的高技術手段處理。Q-Tech晶振已正式上線金洛鑫電子官網,感興趣的采購和用戶可以聯系我司,咨詢相關的資料和產品信息,并可為客戶提供樣品及訂購服務。

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    【本文標簽】:Q-Tech晶體振蕩器 晶振平均失效時間
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