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IDT晶振,壓控振蕩器,8N0QV01晶振

頻率：15.476MHz~260.000MHz

尺寸：7.0*5.0*1.55mm

壓控晶振(VCXO)壓控石英晶體振蕩器基本解決方案,PECL輸出,輸出頻率60 MHz到200 MHz之間,出色的低相位噪聲和抖動(dòng),三態(tài)功能,應(yīng)用：SDH/ SONET,以太網(wǎng),基站,筆記本晶振應(yīng)用,符合RoHS/無鉛.

訂購熱線：0755-27837162

IDT-1

IDT以其智能傳感器和行業(yè)領(lǐng)先的時(shí)間組合來處理汽車應(yīng)用。IDT在德國的全資子公司- IDT歐洲有限公司(前身為ZMD AG)運(yùn)營其卓越的汽車中心。IDT是為4G、5G和云計(jì)算等無線基礎(chǔ)設(shè)施應(yīng)用而設(shè)計(jì)的高性能的領(lǐng)先創(chuàng)新者。解決方案包括行業(yè)領(lǐng)先的射頻信號(hào)鏈產(chǎn)品,串行RapidIO®,和先進(jìn)的時(shí)機(jī)。
IDT積極提高壓控晶振產(chǎn)品和包裝，以產(chǎn)生最快、最可靠的設(shè)備。然而，由于產(chǎn)品性能往往受到其實(shí)現(xiàn)的影響，因此建議仔細(xì)考慮影響設(shè)備運(yùn)行溫度的因素，以達(dá)到最好的效果。IDT的集成電路用于世界各地的通信、計(jì)算和消費(fèi)行業(yè)。IDT總部位于加州圣何塞市，在世界各地都設(shè)有設(shè)計(jì)、運(yùn)營和銷售設(shè)施。7050封裝VCXO晶振,金屬面有源晶體,8N0QV01晶振
JLX-1

IDT晶振,壓控振蕩器,8N0QV01晶振.貼片式vcxo石英晶體振蕩器,低電壓啟動(dòng)功率,并且有多種電壓供選擇,比如有1.8V,2.5V,3.3V,3.8V,5V等,產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于,平板筆記本,GPS系統(tǒng),光纖通道,千兆以太網(wǎng),串行ATA,串行連接SCSI,PCI-Express的SDH / SONET發(fā)射基站等領(lǐng)域.符合RoHS/無鉛.
與其它電子元件相似，石英晶體振蕩器亦采用愈來愈小型的封裝。通常，較小型的器件比較大型的表面貼裝或穿孔封裝器件更昂貴。所以，小型封裝的石英晶振往往要在性能、輸出選擇和頻率選擇之間作出折衷。
JLX-2

RB-2

IDT晶振	標(biāo)示	8N0QV01晶振	晶振基本信息對(duì)照表
標(biāo)準(zhǔn)范圍	f0	15.476MHz～260.000MHz
電源電圧	Vcc	＋2.5V、＋2.8V、＋3.3V
輸出電流	Icc	3.5 mA max.	Vcc=3.3V
頻率負(fù)載	L_CMOS	15pF	CMOS 出力
標(biāo)準(zhǔn)頻率偏差	f_tol	±10×10-6 max.	初期偏差、周波數(shù)溫度特性、電源、負(fù)荷変動(dòng)特性、経時(shí)変化(1年、＋25℃時(shí))
輸出電壓	V	VOH:Vcc×90% min.VOL:Vcc×10% max.
對(duì)稱	SYM	40%～60%	50% Vcc
標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間	tr/tf	12 ns max.(1.8～80MHz)	10%Vcc～90%、L_CMOS=15pF

JLX-3

RB-3

JLX-4

RB-4

噪音
在電源或輸入端上施加執(zhí)行級(jí)別(過高)的不相干(外部的)噪音，可能會(huì)導(dǎo)致7050貼片晶振引發(fā)功能失常或擊穿的閉門或雜散現(xiàn)象。IDT晶振,壓控振蕩器,8N0QV01晶振
電源線路
電源的線路阻抗應(yīng)盡可能低。
輸出負(fù)載
建議將輸出負(fù)載安裝在盡可能靠近7050壓控晶體振蕩器的地方（在20 mm范圍之間）。
未用輸入終端的處理
未用針腳可能會(huì)引起噪聲響應(yīng)，從而導(dǎo)致非正常工作。同時(shí)，當(dāng)P通道和N通道都處于打開時(shí)，電源功率消耗也會(huì)增加；因此，請(qǐng)將未用輸入終端連接到VCC 或GND。
熱影響
重復(fù)的溫度巨大變化可能會(huì)降低受損害的有源晶振的產(chǎn)品特性，并導(dǎo)致塑料封裝里的線路擊穿。必須避免這種情況。
安裝方向
進(jìn)口壓控晶振的不正確安裝會(huì)導(dǎo)致故障以及崩潰，因此安裝時(shí)，請(qǐng)檢查安裝方向是否正確。7050封裝VCXO晶振,金屬面有源晶體,8N0QV01晶振
通電
不建議從中間電位和/或極快速通電，否則會(huì)導(dǎo)致有源晶體無法產(chǎn)生振蕩和/或非正常工作。

JLX-5

RB-5

振蕩電路的檢查方法
振蕩頻率測量
必須盡可能地測量安裝在電路上的諧振器的振蕩頻率的真實(shí)值，
使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中，通常使用探頭和頻率計(jì)數(shù)器。然而,
我們的目標(biāo)是通過限制測量工具對(duì)振蕩電路本身的影響來測量。7050封裝VCXO晶振,金屬面有源晶體,8N0QV01晶振
有三種頻率測量模式，如下面的圖所示（圖）。2, 3和4）。最
精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實(shí)現(xiàn)的。
接觸振蕩電路。
探針不影響圖2，因?yàn)榫彌_器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。
逆變器進(jìn)入下一階段。
探針不影響圖3，因?yàn)樵贗C上測量緩沖器輸出（1/1、1/2等）。
圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況，由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。
輸出點(diǎn)之間的電容（3 pF以下XTAL終端IC）和探針。
然而，應(yīng)該注意到，使用這種方法輸出波形較小，測量不能依賴于
即使示波器能檢查振蕩波形，頻率計(jì)數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下，使用放大器來測量。